鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的**次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
涂鍍層測(cè)厚儀中F，N以及FN的區(qū)別：
F代表ferrous 鐵磁性基體，F(xiàn)型的涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理， 來測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。
N代表Non- ferrous非鐵磁性基體，N型的涂層測(cè)厚儀采用電渦流原理；來測(cè)量用渦流傳感器測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。
FN型的涂層測(cè)厚儀既采用電磁感應(yīng)原理，又采用采用電渦流原理，是F型和N型的二合一型涂層測(cè)厚儀。用途見上。如CM8825F是指只有一個(gè)F探頭的磁性測(cè)厚儀；
CM8826FN是指帶有兩個(gè)探頭的磁性和渦流兩用型二合一涂層測(cè)厚儀。
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